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20170303 AFM图画离线剖析

20170303 AFM图画离线剖析

开端时刻:2017-03-03 10:00

完毕时刻:2017-03-03 11:00

殷豪 高档技能支撑工程师

内容简介
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内容简介

原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各范畴,涵盖了聚合物资料表征,集成光路丈量,资料力学功能表征,细胞外表形状调查,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自拼装结构等范畴的监测等各类科研和出产作业。本次讲座咱们将要点介绍选用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图画进行后期处理以及数据剖析。

本次讲座的内容首要包括: 1、介绍NanoScope Analysis软件中图画处理类功用的原理以及运用办法,包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介绍NanoScope Analysis软件中数据剖析类的功用,包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。

主讲人简介

殷 豪,1981年出世,男,博士,布鲁克高档技能支撑工程师,客户训练讲师。2010年结业于我国科学院上海技能物理研讨所,取得理学博士学位。博士期间主 要从事根据原子力显微镜(AFM)的III-V族半导体纳米电子学研讨;结业后首要从事AFM相关的软硬件技能支撑,以及售后运用支撑;具有长达9年的 AFM技能经历。

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